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薄膜状析出检测

检测项目

1.厚度均匀性:测量精度0.1μm(X射线荧光测厚仪);

2.表面粗糙度:Ra值范围0.01-10μm(白光干涉仪);

3.附着力强度:划格法测试等级0-5级(ASTMD3359);

4.化学成分分析:元素检出限0.01-100ppm(EDS能谱仪);

5.孔隙率检测:分辨率达50nm(场发射扫描电镜)。

检测范围

1.高分子薄膜:PET/PP/PVC基材的功能性涂层;

2.金属镀层:锌镍合金镀层、真空镀铝膜;

3.光学涂层:AR抗反射膜、ITO导电薄膜;

4.陶瓷涂层:热障涂层(TBC)、耐磨氮化钛镀层;

5.复合材料:碳纤维预浸料表面树脂层。

检测方法

1.ASTMB487:截面法测定金属镀层厚度;

2.ISO1463:光学显微镜法评估涂层孔隙率;

3.GB/T1771:盐雾试验评价耐腐蚀性能;

4.ISO2409:划格法附着力测试规范;

5.ASTMD1003:雾度计测定透明薄膜透光率。

检测设备

1.HitachiSU5000场发射扫描电镜:表面形貌分析及元素分布成像;

2.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪:晶体结构及残余应力测定;

3.ZygoNewView9000白光干涉仪:三维表面粗糙度测量;

4.FischerXDV-SDDX射线测厚仪:非破坏性多层膜厚度分析;

5.Instron5967万能材料试验机:剥离强度及拉伸性能测试;

6.ThermoScientificK-AlphaXPS光电子能谱仪:表面化学态分析;

7.Elcometer456涂层测厚仪:磁性/涡流双模式厚度测量;

8.KeyenceVHX-7000数码显微镜:微米级缺陷自动识别;

9.PerkinElmerLambda950紫外分光光度计:光学薄膜透过率测试;

10.Agilent7900ICP-MS:痕量金属元素定量分析。

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

薄膜状析出检测
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。